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信息技术设备的热危险与温升测试简析

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摘要摘要本文介绍了信息技术设备的可能产生热危险的部位及危害，同时简要介绍标准GB4943.1-2011中温升测试的原理，热电偶的选用和测试方法以及测试中应注意的干扰因素。

DOI 54ymv7l940/2703604

作者陈昊

机构地区 Briefanalysisofthermalhazardandtemperaturerisetestofinformationtechnologyequipment

出处《探索科学》 2016年5期

关键词信息技术设备热电偶温升测试干扰因素

分类 [文化科学][]

出版日期 2016年05月15日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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