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一类微分系统特征值的上界估计

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摘要文章中的系统是作者新提出的。考虑一类微分系统特征值的上界估计，利用分部积分、Rayleigh定理和不等式估计等方法和技巧，获得了用前。个特征值来估计第n＋1个特征值的上界的不等式，其估计系数与区域的几何度无关．其结果在物理和力学等领域中应用广泛。

DOI 0dpoyx1wj2/509945

作者吴平;钱椿林

机构地区不详

出处《苏州市职业大学学报》 2007年1期

关键词一类微分系统特征值上界估计

分类 [文化科学][职业技术教育学]

出版日期 2007年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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苏州市职业大学学报

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