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标准测试数据格式（STDF）文件的研究

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摘要介绍了半导体测试中的良率数据记录格式。阐述了标准测试数据格式（STDF）的优点以及结构。给出了将STDF用于半导体测试过程中，以减少花费、增加效率、缩短良率提升时间测试数据标准化的新思路。

DOI wjvk5e09d7/682774

作者袁薇

机构地区不详

出处《电子元器件应用》 2009年4期

关键词测试 STDF FAR 良率

分类 [电子电信][电路与系统]

出版日期 2009年04月14日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

电子元器件应用

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