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X射线荧光光谱法分析氧化铝方法探究

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摘要摘要：本文深入探究了X射线荧光光谱法在氧化铝分析中的两种方法，即XRF压片测定和XRF熔融测定。详细介绍了这两种方法的步骤和优势，突出了它们在成本、灵敏度和实用性方面的差异。同时，文章对X射线荧光光谱法参数的优化进行了细致阐述，包括电流与电压的选择以及入射角度的优化。这些优化为提高氧化铝分析的准确性和可重复性提供了基础。通过合理配置实验参数，可以在保持实验稳定性的同时，提高对关键元素的检测灵敏度，为材料科学和工业应用提供了有力支持。

DOI 0dpolx7wkj/8266021

作者谷亮

机构地区遵义铝业股份有限公司贵州省遵义市563099

出处《中国科技信息》 2024年2期

关键词 X射线荧光光谱法氧化铝方法优化

分类 [建筑科学][建筑技术科学]

出版日期 2024年05月17日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）