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片上NOR-flash内嵌自测试的算法选择

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摘要从flash存储器的基本工作原理出发,基于flash错误模型的总结性研究,重点对Flash-march算法、March-FT算法、BF＆D算法以及Cocktail-March算法的效率进行了分析和评价,并针对不同需求的flash自测试提出了其算法选择方案。

DOI g4qxw0eoj8/913296

作者王栋;孙建;于忠臣

机构地区不详

出处《电子元器件应用》 2010年8期

关键词 FLASH 内建自测试算法片上系统

分类 [电子电信][电路与系统]

出版日期 2010年08月18日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）