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《电子与封装》
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2011年4期
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一种使用双极工艺的温度检测电路
一种使用双极工艺的温度检测电路
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摘要
温度检测是芯片和系统中经常需要的功能,温度检测电路的应用非常广泛。文章详细分析了与温度成正比(PTAT)电压的产生原理,并以此原理为基础设计了一种基于双极工艺的温度检测电路,电路的设计输出电压与温度成正比。通过使用CadenceSpectre仿真工具对电路的功能进行仿真,结果表明该电路在-40℃~120℃内能正常工作,输出的检测电压与温度呈比较精确的正比关系,偏差仅为0.01V。
DOI
odwkoqzvdk/969556
作者
易峰;张又丹;郭海平;何颖
机构地区
不详
出处
《电子与封装》
2011年4期
关键词
双极工艺
温度检测
PTAT
分类
[电子电信][物理电子学]
出版日期
2011年04月14日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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来源期刊
电子与封装
2011年4期
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