简介：摘要：自动光学检测 (AOI)是目前 PCB检测的主要方法， 线路板细小缺陷的检测对于 AOI系统是一大挑战。本文 对 PCB中微小缺陷的成像问题进行了研究， 从成像理论出发，对欠采样条件下显微缺陷成像进行了研究。分析并验证了缺陷尺寸 -像素分辨率比以及采样相位对成像的影响， 对该系统进行性能分析和研究具有重要意义。
AOl检测中微小缺陷成像分析与检测
