简介:锂作为最轻的金属元素,在地质学、天体物理学和核工业等领域,得到了广泛的应用,这些应用都要求对锂同位素丰度进行准确测定。测定锂同位素丰度常用的方法为热表面电离质谱法,但是测量存在系统偏差,需要校正,目前所用的校正方法有标准校正法和校准质谱法。
基于同位素稀释的锂同位素质谱测定技术