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存储
卡
横向测试
作者：
MattHenry;王润
学科：
一般工业技术
>
摄影技术
创建时间：2005-04-14
出处：
《科技新时代：下半月》
2005年第4期
简介：
各种存储
卡
容量越来越大．它们性能如何，让我们一探究竟。
标签：
存储卡
横向测试
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