简介：针对加工车间有数控机床数百台,机床每天需要补给大量的切削液溶液、润滑油,放长假期间还要对机床进行清理.在此过程中,耗时、费力、污染环境并存在安全隐患.结合现场调查提出活动目标,以提出方案并确定最佳方案为重点积极开展活动,通过制定对策并实施完成了多功能补给车的研制.

简介：依照相关产品标准、计量检定规程的要求,结合实际应用,研制了一种X射线探伤机检测装置,该装置可实现X射线探伤机多个主要参数的检测,使用方便,大大提高检测效率,同时由于探伤机主要参数的检测,均与距离密切相关,该检测装置采用了精确的定位装置和精密滑轨,极大提高了检测结果的准确度,保证了测量结果的可靠性。该检测装置的使用,有助于探伤机技术性能的检测和应用分析。

简介：测量了C60单晶[111]方向的同步辐射角分辨光电子谱。观察到HOMO能带和HOMO－1能带明显且有规律的色散。色散曲线与LDA理论结果符合得较好。

简介：在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X－射线在样品表面激发出的电子产额随X－射线能量的变化，提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明，在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单，可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立，有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。

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简介：用XPS和PES研究了钙肽矿型氧化物BaTiO3薄膜和La1-xSnxMnO3薄膜的电子结构。特别地，我们采用角分辨X－射线光电子谱技术（ARXPS），研究了薄膜表面最顶层原子种类和排列状况。结果表明，BaTiO3薄膜表面最顶层TiO2原子平面，La1-xSnxMnO3薄膜的表面最顶层为MnO2原子平面。在此基础上，我们进一步在原子水平上探讨了薄膜的层状外延生长机理。

简介：根据8．5XAFS束线改进工程的需要，我们设计了一种应用于同步辐射光束线的狭缝，该狭缝不但可限制同步辐射光束的截面尺寸，同时具有光束线位置探测功能。可以方便地测量光束的垂直分布及中心位置：迅速准确地准直狭缝及对光束移动做实时监测。

简介：1测量β射线的吸收剂量1.1基本原理外推电离室是其电极之间距离可变的平行板电离室。当电离室的电极逐渐接近而电极间距离逐渐缩短时,其体积和电离电流也将减小。在讨论把空腔电离室理论运用到β射线而设计的外推电离室时,必须假定这个趋于零的小空腔的存在,不会扭曲β射线的注量。为了测量β粒子源产生的辐射场中某处的组织剂量率D_T,建议外推电离室及其7mg/cm~2的入射窗用低原子序数的材料(如石墨或塑料)制作。此外,电离室的体积应由足够厚的材料包围起来,相当于一个无限大的组织等效模体,也就是要求电离室后壁及其侧壁足够厚,至少能够全部吸收所存在的最大能量的β粒子。均匀辐射束的面积应至少是上面的最小模体的面积。在这些条件下,利用所熟悉的Bragg-Gray公式得到:

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简介：测量了C60单晶（111）解理面法向发射的角分辨光电子谱。利用同步辐射光源研究了对应于分子轨道HOMO及HOMO－1的能带的色散关系。实验观察到HOMO和HOMO－1能带在Г－L方向存在明显的色散，最大色散分别为0.27eV和0.42eV色散曲线与理论电子结构基本符合。

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简介：在C60单晶（111）解理面上制备出厚度约30mm的K3C60单晶膜。利用同步辐射光源，在低温下（约150K）测量了样品法向发射的角分辨光电子谱。观察到K3C60导带和价带明显的色散。导带的光电子谱峰可清晰分辨出4个子峰，这些子峰的最大色散超过0.5eV，并且色散曲线与K3C60的一维无序晶体结构模型下的能带理论基本吻合，只是子带间隔差异较大。

简介：在C60单晶(III)解理面上制各出Rb3C60单晶薄膜．得到了室温和150K温度时导带的光电子谱峰形，费米面附近的电子态密度随温度显著变化．甚至在室温时也能观察到导带有不少于6个子峰．

简介：随着北京同步辐射光电子能谱实验站持续稳定的开放运行，用户基于该实验站提供的光电子能谱各种实验模式开展了从金属表面界面电子结构到纳米材料、掺杂金属富勒烯以及磁电阻氧化物体系电子结构的研究工作。本文中选择部分具有代表性的实验结果进行介绍。