简介:摘要电子元器件是组成电子产品必不可少的基本元素,任何电子元器件的故障都会使电子设备产生故障,进而无法正常运作。
简介:摘要IGSS是衡量VDMOS器件性能的一个重要参数,在生产过程中,有很多因素会影响IGSS。文中从VDMOS器件结构及工艺入手,通过电学性能测试分析及FA失效分析对一种特定区域的IGSS失效问题进行研究,发现是多晶刻蚀残留导致IGSS失效,并分析了多晶残留的原因,最终通过加入SF6,调整多晶刻蚀菜单解决了IGSS失效。
简介:摘要企业内部的信息则绝大部分来自现场。因此,要使企业的经营决策正确。除必须及时掌握企业的外部信息外。还必须准确地,全面的掌握企业内部生产现场的信息。