简介：O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平（兰州大学物理系.甘肃,兰州（730000））,奇莉,甘润今（北京机械工业学院基础部.北京（100085））//光学学报.—1998,18（9）.—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TN252005010358光纤端面衍射场光束参数及其测量=Beamparametersindiffractedfieldoffiberendfaceandthemeasurement[刊,中]／林斌(浙江大学光电系,现代光学仪器国家重点实验室,国家光学仪器工程技术研究中心．浙江,杭州(310027)),王科…∥光子学报．-2004,33(3).-294-298基于非傍轴标量光束的传播理论和横截面上光强的

简介：O484.598063898测量金属膜粗糙度的表面等离子激元光谱方法=Surfaceplasmonspectroscopyformeasuringthesurfaceroughnessofmetallicfilms[刊,中]/邓里文,王恭明(复旦大学物理系三束材料改性国家重点实验室.上海(200433))//光学学报.—1998,18

简介：O484.596042597不同表压下芪盐单层LB膜二次谐波的研究=Studyofsecond-harmonicgeneration(SHG)forstilbaziumsaltLangmuir-Blodgettmonolayerfilmatthedifferentsurfacepressure[刊,中]/李加,侯延冰,张光寅,张春平,田建国(南开大学

简介：在研究水云的微物理性质与光学性质关系的基础上,提出了三种用于长波区域窄带和宽带水云光学性质计算的参数化方案,研究了应用不同的水云光学性质参数化方案和不同的宽带数目对云辐射性质的影响,分析了云滴的散射作用对有云大气中长波辐射通量和冷却率的影响.

简介：利用蒙特卡罗方法模拟准直光束在生物组织中的光分布,分别改变吸收系数、散射系数、衰减系数等光学特性参数,比较分析组织中吸收能量密度、光能流率、漫反射率、透射率、光通量分布的差异.结果表明：增大吸收系数和散射系数均会增大吸收能量密度及其梯度;吸收系数影响光能流率和光通量的大小,散射系数影响二者的衰减梯度;吸收系数和散射系数影响漫反射率和透射率大小,散射系数影响二者的衰减梯度.

简介：对固体材料表面的光学检测方法进行了归纳介绍,总结出声光衍射检测技术、激光相位速度扫描检测技术和激光全息无损检测技术三种常用方法,并对各方法的原理、发展及适用范围进行了阐述。

简介：摘要 采用瑞利-拉曼-米氏（Rayleigh-Raman-Mie）激光雷达探测了南京北郊对流层上空气溶胶的光学特性，选取为2011-03-30、2011-03-31以及2011-04-16。通过比对Fernald方法和Raman方法反演气溶胶消光系数证明Raman方法由于不需要提前假定雷达比，因此使用Raman方法反演结果更为精确。利用软阈值小波去噪的方法对Raman回波信号进行去噪处理，结合Mie散射信号反演，获得了不同天气下的气溶胶消光系数、后向散射系数和雷达比的垂直分布廓线图，并进行了分析。实验结果表明，采用软阈值小波去噪的方法，可以有效去除背景噪声的干扰，使反演所得廓线图曲线更为平滑，从而提高反演结果的精度。当天气为晴且无云时，反演获得的气溶胶的消光系数、后向散射系数和雷达比垂直分布廓线图整体均大于大气模型且无明显波动，表明南京北郊上空气溶胶分布均匀，气溶胶无明显聚集。当天空中有云时，气溶胶的消光系数和后向散射系数均显示极大值，并且相应的高度雷达比较低，因此，认为在该高度存在着冰晶云（高积云或高层云）。当天空中没有云，并且有较多气溶胶时，消光系数和雷达比均具有较大的峰值，而后向散射系数则处于较低水平。

简介：机读护照系统中光学机械参数对系统的影响陈毓昆一前言在护照阅读机中，为了实现对护照上特定字符进行识别，通常采用光电接收系统相对字符移动扫描的方法。这种方法基于光学成象的原理，将字符依次成象在线阵ＣＣＤ芯片靶面上，然后将光信号转换成电信号，通过电路及软件...

简介：在光学表面检测系统ABISⅡ的帮助下，白车身和金属板材零件上的许多缺陷都可以在生产过程的早期（如冲压完成后）检查出来，例如撞伤、凹痕、波纹、缩痕、压缩和裂缝。

简介：1.下列说法正确的是().A光波是一种概率波;B光波是一种电磁波;C单色光从光密介质进入光疏介质时,光子的能量改变;D单色光从光密介质进入光疏介质时,光的波长不变

简介：通过仿真、计算及优化对比等方式，分析了束光学组件中关键参数变化对氢原子束流产生的影响，主要涉及氢原子钟电离泡温度、准直器束流散射角、选态器长度、选态器内孔尺寸、磁钢充磁强度、氢原子自由出射距离及泡口尺寸等七个参数。理论分析结果表明：在束光学组件设计中，应降低电离泡的温度波动，有效控制散射角及截获角，精密检测选态器尺寸及充磁强度，优化选择氢原子自由出射距离与泡口尺寸等。研究结果对氢原子钟束光学组件工程设计及实际应用具有十分重要的指导意义。

简介：摘要：自动光学检测技术随着我国经济与科技实力的不断发展当中取得了一定的成绩，自动光学技术也提高了。自动光学检测技术在工业质量检测当中的应用也越来越广泛，通过自动光学检测技术是工业检测的质量提高。以电子原件质量检测为主。自动光学检测技术就是通过机器的摄像头扫描PCB，进行图像采集，将测试的焊点数据库中合格的参数进行比较，查出机器上的不足，通过显示器将这些缺点展示出来。工作人员就知道哪里出了错误，并对其修改，这种自动光学检测技术和工业质量检测中提供了重要的帮助。

简介：摘要：激光器的钕玻璃表面在生产过程中会有划伤，会对激光器的运行带来严重影响。本文以钕玻璃的划伤缺陷快速、精准的检测为例，介绍了机器视觉检测技术的基本组成、检测微弱划痕需要考虑的问题、搭建检测微弱划痕的机器视觉系统。