简介:采用油膏填充缓冲管是光纤光缆行业近年来一项被证实的技术。最近.一些制造商开始提供无油膏或全干式绞合松套管结构。无油膏缓冲管被认为最可加速光缆制备和减少清洁工作的一种工艺优良的设计。本文将重点介绍含有无油膏缓冲管和油膏填充缓冲管的两种不同类型绞合松套管光缆结构的设计和性能。对每种光缆类型的机械性能和环境性能进行了比较。使光缆经受三种不同标准中提出的最严格的试验要求。这三个标准分别是ANSI/ICEAS-87-640-1999.TeloordiaGR-20-CORE和EN187105。为了更好地了解这些光缆结构的性能.对其进行了所有试验.直到在这些规范的通用指标下断裂。除了机械和环境试验外,这些光缆还将经受一系列的定制冷温渗水试验.以比较不同阻水方法的效果。对每种光缆的性能进行了评价.以便为选择油膏填充或无油膏光缆结构提供附加依据。
简介:文中采用传统的表面贴装技术进行焊接,研讨μBGA的PCB装配及可靠性。弯曲循环试验(1000με~-1000με),用不同的热因数(Qη)回流,研究μBGA、PBGA和CBGA封装的焊点疲劳失效问题。确定液相线上时间,测定温度,μBGA封装的疲劳寿命首先增大,接着随加热因数的增加而下降。当Qη接近500s·℃时,出现寿命最大值。最佳Qη范围在300s·℃~750s·℃之间,此范围如果装配是在氮气氛中回流,μBGA封装的寿命大于4500个循环。采用扫描电子显微镜(SEM),来检查μBGA和PBGA封装在所有加热因数状况下焊点的失效。每个断裂接近并平行于PCB焊盘,在μBGA封装中裂纹总是出现在焊接点与PCB焊盘连接的尖角点,接着在Ni3Sn4金属间化合物(IMC)层和焊料之间延伸。CBGA封装可靠性试验中,失效为剥离现象,发生于陶瓷基体和金属化焊盘之间的界面处。