LED芯片封装缺陷检测方法研究

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摘要 摘要: LED是在 19世纪 60年代发展起来的一种半导体显示器件,,它以其优越的性能,被誉为新一代照明光源。基于此,本文对 LED芯片封装缺陷检测方法进行了详细的论述。
出处 《当代电力文化》 2020年05期
出版日期 2020年06月19日(中国期刊网平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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