从电子元器件的可靠性存在的问题出发，与可靠性增长相联系，简述了可靠性增长曲线和电子元件的可靠性分析基本思路方法。从元器件可靠性物理分析技术角度，系统地阐述了失效信息的收集与分析、失效分析、破坏性物理分析、失效模式及机理与工艺的相关性分析、失效模式与影响分析等元器件的质量与可靠性分析技术，得出分析失效机理和失效原因才可以有效实现可靠性增长的相关结论。
黄山学院学报
2009年3期
