简介:总部位于荷兰哈尔斯特伦的RommtechB.V.公司已经进入第二代发展阶段,该公司在电子组装生产方面为客户提供支持。在彻底评估后,
简介:CRT显示器用为一项技术成熟的产品,与LCD显示器在性价比上的优势使其在专业图像领域的用户内仍有一定数量的用户拥载.而最近开始流传一个新名词——“方管”技术,它号称攻克了传统CRT显示器的多个难题.并被称为是显示器发展历史上的又一次重大革新和突破.甚至有人认为“方管”显示器在显示的精准方面媲美LCD显示器.种种传言莫衷一是。那么到底什么是“方管“技术.“方管”技术到底能给我们带来多大的惊喜,我们从世界第一款采用“方管”的显示器LG的未来窗XP上可以看出一些端倪。
简介:对建模无线电波传播的随机射线进行了详细的阐述,从随机网格信道引出随机射线的概念,介绍了随机射线的产生背景和分类,并给出一种产生随机射线的数学模型随机桥过程。使用最大熵原理得到发生后次反射随机射线的概率分布。最后介绍使用随机射线建模超宽带室内信道的多径传播轨,在此基础上可以得到信道特性建模的基本随机变量,以及无线电波传播的概率模型等应用。
简介:在集成电路的陶瓷气密封装中,往往使用X射线照相技术来检查密封区的空洞情况并由此判断密封质量的好坏。通常情况下,X射线的检测结果是可信的,但是也存在由于某种原因导致焊接空洞无法为X射线所探测的情形。此外,部分具有底部热沉的陶瓷外壳,其热沉材料本身对X射线的吸收很大,会对焊接区存在的空洞的成像进行覆盖,并造成漏判。另外,X射线对于不同层面的空洞会进行图像叠加,从而无法对空洞部位进行准确定位。文中从X射线照相的原理上对此类X射线照相中的空洞漏判等现象进行了分析和探讨。
简介:安捷伦科技和Zollner集团近日宣布,全球电子制造服务提供商Zollner为增强集团的测试和检验能力,已选择了AgilentMedalistx6000自动x射线检测(AXI)系统。作为已拥有AgilentMedalist5DXAXI解决方案的用户,Zollner是欧洲地区新x6000AXI解决方案的最早采用者之一。
简介:X射线检测技术和返修技术领先厂商VJElectronix日前宣布,将在NEPCONChina2012展览会上,在其代理商凯能自动化公司1G56号展台上,展示其先进的返修系统和X射线监测系统。
简介:随着近年来液晶面板的兴起以及越来越大的尺寸,高压LCD驱动日渐受到市场的关注。该产品生产中采用了埋层注入和外延工艺,作为N型搀杂的锑注入其工艺稳定性直接影响了外延层的位错/层错缺陷。原先的锑注入监测工艺周期时间长成本高,为了寻求一种更适用于量产的监测方法,文章对锑工艺区别于其他N型注入工艺监测的原因做了进一步分析,提出了一种改进的监测方法,通过低温快速热退火实现了短周期,剂量敏感且具有良好重复性,易于量产。
简介:从工程应用的角度介绍了一种基于总剂量效应的SOI器件模型参数的快速提取方法。首先,提取0krad(Si)时器件的模型参数,然后针对总剂量敏感参数,对100krad(Si)总辐射试验后的同种器件进行模型参数优化,并对得到的模型参数进行验证。结果表明,该方法所提取的模型参数准确有效,解决了国内目前在抗辐照SOI工艺中因采用标准SOI工艺SPICE模型(如BSIMSOI等)导致不能反映辐照效应对器件特性的影响且无法给出经过不同辐照剂量之后的器件特性的缺点,可用于评估辐射对SOI电路的影响。
Rommtech公司选择Viscom光学与X射线组合检测
X射线为零——显示器“方管”技术探源
无线电波传播中的随机射线及其应用
X射线在陶瓷气密封装空洞检查中的不足
Zollner选择了Agilent Medalist x6000自动X射线检测系统
VJ Electronix将展示先进的返修系统和X射线检测系统
一种锑注入剂量的监测方法
一种基于总剂量效应的SOI器件模型快速提取方法