简介:摘要:经过长期发展,我国电子元器件缺陷检查技术不断进步,已经可以全面实现内外部共同检测,但是实践研究发现大多数的检测工作仍然集中在外部缺陷,而且仍然以人工检测或者显微镜检测作为主要检测方式,不仅检测效率偏低,也容易造成资源浪费;而内部检测难度系数较高,尤其是一些精准性参数的检查过程尤为复杂,最终所提供的检测数据准确性偏低。所以近几年电子元器件出现检测技术的研发更受到重视,技术人员希望通过更加智能的电子技术和数字图像处理技术进行缺陷分析检测,基于此,本文通过五个方面内容分析,电子元器件缺陷检测技术研究与开发的主要内容。首先,分析性能参数缺陷检测技术;其次,分析外观缺陷检测技术;然后,分析检测系统架构与功能;另外,分析电子元器件表面图像获取与分割技术实现;最后,分析图像降噪与特征提取技术实现。
简介:摘要:经过长期发展,我国电子元器件缺陷检查技术不断进步,已经可以全面实现内外部共同检测,但是实践研究发现大多数的检测工作仍然集中在外部缺陷,而且仍然以人工检测或者显微镜检测作为主要检测方式,不仅检测效率偏低,也容易造成资源浪费;而内部检测难度系数较高,尤其是一些精准性参数的检查过程尤为复杂,最终所提供的检测数据准确性偏低。所以近几年电子元器件出现检测技术的研发更受到重视,技术人员希望通过更加智能的电子技术和数字图像处理技术进行缺陷分析检测,基于此,本文通过五个方面内容分析,电子元器件缺陷检测技术研究与开发的主要内容。首先,分析性能参数缺陷检测技术;其次,分析外观缺陷检测技术;然后,分析检测系统架构与功能;另外,分析电子元器件表面图像获取与分割技术实现;最后,分析图像降噪与特征提取技术实现。
简介:摘要:伴随社会的变迁、科技的进步,大部分家用电器也实现了智能化,同时电子产品也发展成为了现代人生活之中至关重要的一部分。而以上这些成果均需要确保电子元器件的整体质量、可靠性达标。加之伴随经济的增长,行业竞争形势也变得愈发激烈,对于电子元器件有关企业便纷纷在强化质量监管力度,并积极提高产品性能的可靠性。基于此,本文分析了电子元器件质量及其可靠性管理的意义、措施。
简介: 摘要:随着电子工业的快速发展,元器件生产过程中的质量控制变得越来越重要。由于生产环境、操作人员、设备等多种因素的影响,元器件的质量往往难以保证。为了提高元器件的质量稳定性,采用统计过程控制(SPC)策略进行筛选成为了一种有效的解决方法。在实现SPC的过程中,需要收集生产过程中的数据,并进行分析和判断。通常会采用控制图等方法来监控生产过程,及时发现异常并进行处理。通过对生产过程进行SPC控制,可以有效地提高元器件的质量稳定性,为电子产品的可靠性提供了有力的保障。